L’objectif de ce module est de donner aux étudiants la maîtrise des fondements théoriques et expérimentaux d'une technique de caractérisation essentielle en science des matériaux : la microscopie électronique à balayage associée à la microanalyse X. 

Une partie importante des heures est utilisée à la réalisation en conditions réelles sous forme de travaux pratiques d’observation en microscopie optique et électronique. Les étudiants seront amenés dans ce cadre à réaliser des mesures avec des appareillages modernes utilisés couramment par les chercheurs du laboratoire IRCER.

Contenu du cours :

1. Interactions rayonnements-matière pour la caractérisation des matériaux

2. Instrumentation du microscope électronique à balayage (MEB)

3. Imagerie et contrastes électroniques en MEB

4. Analyse élémentaire par microanalyse X (EDS)